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1. 电容-电压测量技术、技巧与陷阱

在半导体C-V测量基本原理(存档视频:http://www.keithley.com/promo/ws/114)一文中,我曾谈到,电容-电压(C-V)测试长期以来被用于判断多种不同器件和结构的各种半导体参数,适用范围包括MOSCAP、
/jishuwenxian/jiliangjiance/2010-10-19/644.html - 2010-10-19 - 计量检测